（1）在外延片的均勻度得到控制以前，研發(fā)快速低成本芯片分選工藝和設備。

　　（2）隨著W級功率LED技術的發(fā)展，傳統(tǒng)LED產品參數(shù)檢測標準及測試方法已不能滿足照明應用的需要，須開發(fā)全新的測試標準和方法，包含更多的與照明相關的光學內容。

　?。?）在LED系統(tǒng)壽命測試中，研發(fā)LED系統(tǒng)的長期性能和壽命快速測定評價技術。

　?。?）照明用LED是處于大電流驅動下工作，這就對其提出更高的可靠性要求。傳統(tǒng)LED的篩選方式不合適照明用大功率LED,必須開發(fā)新的篩選試驗辦法，剔除早期失效品，保證產品的可靠性。